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產(chǎn)品中心實驗檢測儀器共面性測試儀IC芯片共面度測試儀
產(chǎn)品簡介
IC芯片共面度測試儀引腳的共面性指器件引腳底面不在同一平面的情況。一般用引腳底面離元件引線確定的平面的距離表示。引腳共面性的問題，主要涉及多引腳的器件，如QFP、BGA、連接器等。
產(chǎn)品分類
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IC芯片共面度測試儀的工作原理
測量儀工作原理：被測工件（置于工作臺上）由LED表面光或輪廓光（在底座內(nèi)）照明后，經(jīng)變焦距物鏡與彩色CCD攝影機(jī)罩殼內(nèi)攝取被測零件影像，再通過S端子傳送至計算機(jī)及顯示器上，軟件在顯示器上產(chǎn)生的視頻十字線為基準(zhǔn)，對其進(jìn)行瞄準(zhǔn)測量，通過工作臺帶動光學(xué)尺與在X、Y方向上移動，取空間各點(diǎn)坐標(biāo)值，由轉(zhuǎn)接卡至計算機(jī)，對測量坐標(biāo)值進(jìn)行幾何運(yùn)算，完成各種數(shù)據(jù)量測工作。
IC芯片共面度測試儀的應(yīng)用領(lǐng)域
本儀器采用測量軟件，能率的檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓和表面形狀，1、元器件共面性測試、引腳移位檢測、引腳高度錯誤檢測、引腳面積測量、直徑、角度、不規(guī)則面積測量、手輪可調(diào)節(jié)光柵、非刺眼型光源、高精度XZ軸測距、SPC過程統(tǒng)計如樣板、沖壓件、凸輪，成形銑刀等各種工具，刀具和零件，以及端子、鐘表、金剛石等生產(chǎn)。
應(yīng)用領(lǐng)域
本儀器采用測量軟件，能率的檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓和表面形狀，1、元器件共面性測試、引腳移位檢測、引腳高度錯誤檢測、引腳面積測量、直徑、角度、不規(guī)則面積測量、手輪可調(diào)節(jié)光柵、非刺眼型光源、高精度XZ軸測距、SPC過程統(tǒng)計如樣板、沖壓件、凸輪，成形銑刀等各種工具，刀具和零件，以及端子、鐘表、金剛石等生產(chǎn)。
儀器特點(diǎn)：
1、機(jī)臺核心零部件全部采用產(chǎn)品，整機(jī)經(jīng)過嚴(yán)格，規(guī)范的組裝和調(diào)試，整機(jī)在24小時恒溫間內(nèi)經(jīng)300小時不間斷運(yùn)行負(fù)載測試。
2、自準(zhǔn)直儀校準(zhǔn)機(jī)臺機(jī)身工作臺裝配工藝，保證機(jī)器空間測量高精度。
3、工作臺，經(jīng)過嚴(yán)格熱處理時效，長期使用保證基準(zhǔn)面不變形，導(dǎo)軌運(yùn)行精度穩(wěn)定。
4、采用山東濟(jì)南青“00"級花崗石底座，保證機(jī)械系統(tǒng)*的穩(wěn)定性。
5、采用高精密V型交叉導(dǎo)軌，保證儀器*的機(jī)械精度。
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